Atomic Force Microscope หรือ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นกล้องจุลทรรศน์ หัวอ่านส่องกราด (Scanning Probe Microscope, SPM) ชนิดหนึ่ง สามารถใช้ในการสแกนพื้นผิวของ ตัวอย่างเพื่อวิเคราะห์คุณลักษณะเชิงพื้นผิวของ วัสดุได้ในระดับนาโน โดยการศึกษาลักษณะแรง ปฏิกิริยาที่เกิดขึ้นระหว่างพื้นผิวของวัสดุและปลาย เข็มที่จ่อลงไป บนผิว.

นอกจากสามารถวิเคราะห์ข้อมูลเชิงภูมิลักษณะ ในรายละเอียดที่สูงแล้ว ยังสามารถให้ข้อมูลเชิง พื้นผิว อื่นๆ อย่างเช่น ความเหนียว (adhesion) หรือความแข็ง (stiffness) โดยการศึกษาลักษณะ แรง ปฏิกิริยาที่เกิดขึ้นระหว่างพื้นผิวของวัสดุและ ปลายเข็ม อีกด้วย.