Home » Products » Mat » Analytical Instruments » Imaging Analysis

IMAGING ANALYSIS

เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ

เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ COXEM

เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ (Imaging Analysis Instruments) โดยทางเราได้นำเข้ากล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) โดยเป็นเครื่องมือที่วิเคราะห์เชิงสัณฐานวิทยาหรือชีววิทยา ศึกษารูปพรรณสัณฐานภายนอกและคุณสมบัติเฉพาะของโครงสร้างเช่น สี ขนาด รูปร่าง ฯ โดยเครื่องสามารถให้ภาพที่คมชัด ไร้เสียงรบกวนแม้กำลังขยายสูง สแกนพื้นที่กว้างด้วยคุณสมบัติพาโนรามา มาพร้อมกับ EDS ที่มีประสิทธิภาพที่ดี

ซึ่งสินค้าเครื่องมือต่างๆ เป็นหนึ่งในสินค้าของหน่วยธุรกิจสินค้า เครื่องมือวิจัย และทดสอบทางด้านวัสดุ (Materials Research and Testing Equipment Products) นำเข้าและจัดจำหน่ายในนามแบรนด์ “COXEM (โคเซ็ม)”

About COXEM

COXEM (โคเซ็ม) เป็นบริษัทผู้ผลิตเครื่องมือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) จากประเทศเกาหลี ซึ่งเทคโนโลยี SEM นี้ เป็นเทคโนโลยีที่ถูกพัฒนา โดยสถาบันวิจัย KRISS (Korea Research Institute of Standards and Science) ซึ่งเป็นสถาบันวิจัยวิทยาศาสตร์และมาตรวิทยา แห่งชาติของประเทศเกาหลี บริษัท COXEM ได้มีการเติบโตอย่างรวดเร็ว จนขณะนี้ได้เป็นหนึ่งในยี่ห้ออันดับต้นของโลก ในสายของเครื่องกล้องจุลทรรศน์ SEM แบบชนิดตั้งโต๊ะ (Table-top SEM) ล่าสุดในปี 2018 ทาง COXEM ได้ ต้อนรับ CTO คนใหม่มาจากบริษัท Samsung เข้าร่วมทีมงานวิจัยและพัฒนาของบริษัทฯ


PRODUCTS

Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราด แบบตั้งโต๊ะ

EXPLORE >


เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ CSI

เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ (Imaging Analysis Instruments) โดยทางเราได้นำเข้ากล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์แรงอะตอม (AFM) โดยเป็นเครื่องมือที่วิเคราะห์เชิงพื้นผิวตัวอย่าง ซึ่งเป็นเครื่องที่ออกแบบด้วยเทคโนโลยีขั้นสูง มีความยืดหยุ่น แข็งแรง มีประสิทธิภาพและสะดวกต่อการใช้งาน

ซึ่งสินค้าเครื่องมือต่างๆ เป็นหนึ่งในสินค้าของหน่วยธุรกิจสินค้า เครื่องมือวิจัย และทดสอบทางด้านวัสดุ (Materials Research and Testing Equipment Products) นำเข้าและจัดจำหน่ายในนามแบรนด์ “CSI : Concept Scientific Instruments”

About CSI

Concept Scientific Instruments (CSI) เป็นบริษัทผู้ผลิตเฉพาะทาง ทางด้านเครื่องกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม หรือ Atomic Force Microscope (AFM) ก่อตั้งขึ้นโดยกลุ่มวิศวกร ผู้มีประสบการณ์ในสาย AFM มากกว่า 20 ปี บริษัท CSI มีที่ตั้งอยู่ภายในย่าน Plateau de Saclay ซึ่งเป็นเขตวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งแรกของประเทศฝรั่งเศส (เทียบเท่ากับ Silicon Valley ของ Europe) ซึ่งเป็นสภาวะแวดล้อมที่ส่งเสริมกับงานวิจัยและพัฒนาของเครื่องมือเป็นอย่างดี CSI มุ่งเน้นที่จะผลิตเครื่อง AFM ที่ไม่เหมือนใคร โดยนําประสบการณ์จากมุมมองของ “users” มากกว่าผู้ผลิต เพื่อสร้างเครื่องมือที่ใช้งานง่ายและมีประสิทธิภาพสูงสุดกับงานเชิงวิจัย


PRODUCTS

Atomic Force Microscope (AFM)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์แรงอะตอม

EXPLORE >


เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ WITec

เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ (Imaging Analysis Instruments) โดยทางเราได้นำเข้ากล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์แบบคอนโฟคอลราเมนและแบบแสงส่องกราดในระยะใกล้ โดยเป็นเครื่องมือที่วิเคราะห์เชิงพื้นผิวตัวอย่างและเคมีเชิงภาพ ซึ่งเป็นเครื่องที่ออกแบบให้มีประสิทธิภาพความเร็ว ความไวแสง รวมทั้งความละเอียดที่ดี อีกด้วย

ซึ่งสินค้าเครื่องมือต่างๆ เป็นหนึ่งในสินค้าของหน่วยธุรกิจสินค้า เครื่องมือวิจัย และทดสอบทางด้านวัสดุ (Materials Research and Testing Equipment Products) นำเข้าและจัดจำหน่ายในนามแบรนด์ “WITec (วีเทค)”

About WITec

WITec (วีเทค) เป็นผู้ผลิตชั้นนําในกลุ่มเครื่องมือกล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ ระดับนาโน โดยมีจุดเด่นเน้นในทางด้านเทคโนโลยี “RAMAN IMAGING” บริษัท WITec ก่อตั้งขึ้นในปี 1997 โดยนักวิจัย 3 คนจากภาควิชาฟิสิกส์ ของมหาวิทยาลัยอูล์ม (Ulm University) ประเทศเยอรมนี จุดเด่นของบริษัท WITec คือการที่ผู้ก่อตั้งนั้น มาจากเบื้องหลังสายงานทางด้านวิจัยและการศึกษา ทําให้บริษัทมีเอกลักษณ์ความเป็นนักคิดและนักวิจัยสูงเป็นพิเศษ ประกอบด้วยสัดส่วนของพนักงานที่อยู่ในส่วนของ R&D มากถึง 1 ใน 3 ของพนักงานทั้งหมด เป็นผลให้มีความต่อเนื่องด้านใหม่ในการพัฒนาของ Innovative Technology


PRODUCTS

Scanning Near-field Optical Microscope (SNOM)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ แสงส่องกราดสนามระยะใกล้

EXPLORE >

Confocal Raman Microscope (RAMAN)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ คอนโฟคอลรามาน

EXPLORE >

Inverted Confocal Raman Microscope

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ คอนโฟคอลรามาน แบบกลับด้าน

EXPLORE >

Cryo-Raman Microscope

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ คอนโฟคอลรามาน ภายใต้สภาวะอุณหภูมิแช่แข็ง

EXPLORE >


เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ neaspec

เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ (Imaging Analysis Instruments) โดยทางเราได้นำเข้ากล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ เอกลักษณ์เฉพาะระดับนาโนของวัสดุในย่านอินฟราเรด โดยเป็นเครื่องมือที่รวมความสามารถในการสร้างภาพในสเกลระดับนาโน (Nano Imaging) เป็นการรวมกันของระบบชนิด SNOM และอินฟราเรด (FT-IR) จึงทำให้สามารถวิเคราะห์ได้อย่างละเอียด มากถึงในสเกลระดับ 10 นาโนเมตร

ซึ่งสินค้าเครื่องมือต่างๆ เป็นหนึ่งในสินค้าของหน่วยธุรกิจสินค้า เครื่องมือวิจัย และทดสอบทางด้านวัสดุ (Materials Research and Testing Equipment Products) นำเข้าและจัดจำหน่ายในนามแบรนด์ “neaSpec (เน-อา-เสป็ค)”

About neaspec

neaSpec (เน-อา-เสป็ค) เป็นบริษัท spin-off มาจากสถาบันวิจัย แมคส์ แพลงค (Max Planck Institute of Biochemistry) ณ เมืองมิวนิค ประเทศเยอรมนี ซึ่งเป็นหนึ่งในสถาบันวิจัยชั้นนําของโลก neaSpec ก่อตั้งขึ้นในปี 2007 โดย Dr.Keilmann, Prof.Hillenbrand และ Dr.Ocelic ซึ่งเป็น pioneers ผู้บุกเบิก ในสายของ near-field microscopy หรือที่เรียกว่า “กล้องจุลทรรศน์ สนามระยะใกล้” เทคโนโลยีของ neaSpec นั้นได้เป็นที่ยอมรับในวงการวิจัย อย่างสูงโดยมหาวิทยาลัยและศูนย์วิจัยระดับแนวหน้าของโลก และได้ช่วยสร้างผลงานตีพิมพ์ให้กับนักวิจัยเป็นจํานวนมากในแต่ละปี โดยมี impact factor ถึงมากกว่า 10 คะแนน


PRODUCTS

nano-FTIR ๖

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์ เอกลักษณ์เฉพาะระดับนาโนของวัสดุ ในย่านอินฟราเรด

EXPLORE >