Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
TFA-img-001
TFA-img-002
TFA-img-003
TFA-img-004
previous arrowprevious arrow
next arrownext arrow

Thin Film Characterization System (TFA)

เครื่องวิเคราะห์สมบัติเฉพาะฟิล์มบาง Thin Film Characterization System (TFA / TFA Analyzer) คือเครื่องที่ใช้ในการวิเคราะห์สมบัติลักษณะเฉพาะของตัวอย่างฟิล์มบางประเภทต่างๆ ได้แก่ สมบัติการนำความร้อนและไฟฟ้า (thermal and electrical conductivity), ค่า p, สมบัติความต้านทานไฟฟ้า (electric resistivity), ค่าสัมประสิทธิ์ซีเบค (seebeck coefficient) เป็นต้น

Specifications

  • Temperature range: -160 up to 280°C
  • Sample thickness: 5 nm to 25 μm (range depends on sample)
  • Deposition techniques: PVD (sputtering, evaporation), ALD, Spin coating, Ink-jet printing, and more

Properties

  • Thermal conductivity (k)
  • Specific heat capacity (cp)
  • Seebeck coefficient (S)
  • Electric resistivity (ρ)
  • Electric conductivity (σ)
  • Hall constant (AH)
  • Mobility (μ)
  • Charge carrier concentration (n)

Videos

Contact Us for Products Information

complete the form below to ask any questions. we will respond as soon as possible.

Start typing and press enter to search

Scroll to Top