IMAGING ANALYSIS INSTRUMENTS / ANALYTICAL MICROSCOPE

Imaging Analysis Instruments เครื่องวิเคราะห์เชิงภาพ เป็นเครื่องที่ทำการวิเคราะห์สัณฐานวิทยาหรือชีววิทยา โดยในรูปแบบของกล้องจุลทรรศน์ที่วิเคราะห์สมบัติเชิงพื้นผิว เช่น การวิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราด (SEM), การวิเคราะห์แรงอะตอม (AFM), การวิเคราะห์เคมี โดยเทคนิควิเคราะห์แสงรามาน (Raman Spectroscopy) เป็นต้น

Scanning Electron Microscope (SEM)

COXEM Co., Ltd. (Korea)

Imaging Analysis Instruments

Table-top Scanning Electron Microscope (SEM)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็คตรอนส่องกราด
แบบตั้งโต๊ะ

Imaging Analysis Instruments

Scanning Electron Microscope (SEM)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็คตรอนส่องกราด

Imaging Analysis Instruments

Ion Sputter Coater

เครื่องเคลือบตัวอย่าง
โดยวิธีสปัตเตอริ่ง

Imaging Analysis Instruments

Cross-section Polisher

เครื่องเตรียมหน้าตัดตัวอย่าง
โดยวิธีฉายแสงอาร์กอนไอออน


Atomic Force Microscope (AFM)

CSI – Concept Scientific Instruments (France)

Imaging Analysis Instruments

Atomic Force Microscope (AFM)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์แรงอะตอม

Imaging Analysis Instruments

AFM Upgrade Kit

ชุดอุปกรณ์อัพเกรดกล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์แรงอะตอม


Raman Microscope

WITec GmbH (Germany)

Imaging Analysis Instruments

Confocal Raman Microscope

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์คอนโฟคอลรามาน

Imaging Analysis Instruments

Mobile Raman System

ระบบวิเคราะห์รามานแบบเคลื่อนที่

Imaging Analysis Instruments

Confocal Raman Microscope for Semiconductor

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์คอนโฟคอลรามาน สำหรับ semiconductor


Nano-scale Infrared Chemical Imaging Microscope

neaspec GmbH (Germany)

Imaging Analysis Instruments

nano-FTIR / AFM-IR

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์เอกลักษณ์เฉพาะระดับนาโนของวัสดุในย่านอินฟราเรด


Contact Us for Products Information

complete the form below to ask any questions. we will respond as soon as possible.

Scroll to Top