Scanning Electron Microscope (SEM CX-200Plus)

Scanning Electron Microscope (SEM CX-200Plus)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราด รุ่น CX-200Plus หรือ Scanning Electron Microscope (SEM CX-200Plus) เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่วิเคราะห์สมบัติเชิงพื้นผิวของวัสดุต่างๆ เป็นรุ่นที่สำหรับตั้งพื้น มีการถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูง เหมาะสำหรับความต้องการทางด้านการวิจัยและการควบคุมคุณภาพที่มีความต้องการหลากหลายประเภท สามารถรองรับ detectors ทั้งแบบ SE และ BSE รวมถึงมีกล้องมองภาพภายใน สำหรับการปรับความเอียงและความสูงของ stage ได้อย่างง่ายดาย สามารถใช้ในงานวิจัยหลากหลายสาขา เช่น โลหะวิทยา วิศวกรรมวัสดุ หรือ ธรณีวิทยา เป็นต้น

Specifications

  • Magnification range: 15x to 300,000x
  • Accelerating voltage: 1 – 30kV (adjustable in 1kV scale)
  • Vacuum/Pressure mode: High vacuum
  • Multiple detectors:  SED(DP), BSED(DP)

Applications

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราด (Scanning Electron Microscope/SEM) เพื่อแสดงโครงสร้างพื้นผิวของเซลล์และโมเลกุลขนาดใหญ่โดยตรง ด้วยความละเอียดระดับนาโนเมตร เช่น จุลชีววิทยา วิทยาศาสตร์ด้านอาหารหรือสิ่งแวดล้อม กระดาษ เส้นใยผม รากฟันเทียม แผ่นแปะเพื่อความงาม ผงเงิน เป็นต้น

Videos


Contact Us for Products Information

complete the form below to ask any questions. we will respond as soon as possible.

Scroll to Top