กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์แรงอะตอม Atomic Force Microscope (AFM / AFM Nano-Observer) เป็นกล้องจุลทรรศน์หัวอ่านส่องกราด (Scanning Probe Microscope, SPM) ชนิดหนึ่ง สามารถใช้ในการวิเคราะห์สมบัติต่างๆ ของพื้นผิวในระดับนาโน (nano surface characterization) มีระบบรองรับการทดสอบได้หลากหลาย (Multiple-modes AFM) มีจุดเด่นพิเศษในเรื่องการวิเคราะห์สมบัติทางไฟฟ้าขั้นสูง (ResiScope) และยังสามารถทําการวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิวได้ในหลากหลายมิติ รวมถึง เชิงกายภาพ เชิงแม่เหล็ก และเชิงความร้อน อีกด้วย