เครื่องวิเคราะห์สมบัติเฉพาะฮอลล์ Hall Characterization System (HCS / Hall Effect Analyzer) คือเครื่องที่ใช้ในการวิเคราะห์สมบัติทางไฟฟ้า (electrical transport properties) ของสารกึ่งตัวนำ เช่น สมบัติความต้านทานไฟฟ้า (electric resistivity), สมบัติการนำไฟฟ้า (electrical conductivity), ความหนาแน่นของประจุไฟฟ้า (charge carrier concentration), การเคลื่อนที่ของประจุ (mobility) เป็นต้น และสามารถใช้ในการวิเคราะห์สมบัติเฉพาะของวัสดุต่างๆเช่น Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type), metal layers, oxides