Hall Characterization System (HCS)
เครื่องวิเคราะห์สมบัติเฉพาะฮอลล์ Hall Characterization System (HCS / Hall Effect Analyzer) คือเครื่องที่ใช้ในการวิเคราะห์สมบัติทางไฟฟ้า (electrical transport properties) ของสารกึ่งตัวนำ เช่น สมบัติความต้านทานไฟฟ้า (electric resistivity), สมบัติการนำไฟฟ้า (electrical conductivity), ความหนาแน่นของประจุไฟฟ้า (charge carrier concentration), การเคลื่อนที่ของประจุ (mobility) เป็นต้น และสามารถใช้ในการวิเคราะห์สมบัติเฉพาะของวัสดุต่างๆเช่น Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type), metal layers, oxides
Specifications
Properties
Video
Contact us
or complete the form below to ask any questions.
we will respond as soon as possible.
Thank you for your message. It has been sent!
There was an error trying to send your message. Please try again later.