Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
Thin Film Characterization System
TFA-img-01
TFA-img-02
TFA-img-03
TFA-img-04
TFA-img-05
previous arrowprevious arrow
next arrownext arrow

Thin Film Characterization System (TFA)

เครื่องวิเคราะห์สมบัติเฉพาะฟิล์มบาง Thin Film Characterization System (TFA / TFA Analyzer) คือเครื่องที่ใช้ในการวิเคราะห์สมบัติลักษณะเฉพาะของตัวอย่างฟิล์มบางประเภทต่างๆ ได้แก่ สมบัติการนำความร้อนและไฟฟ้า (thermal and electrical conductivity), ค่า p, สมบัติความต้านทานไฟฟ้า (electric resistivity), ค่าสัมประสิทธิ์ซีเบค (seebeck coefficient) เป็นต้น

Specifications

  • Temperature range: -160 up to 280°C
  • Sample thickness: 5 nm to 25 μm (range depends on sample)
  • Deposition techniques: PVD (sputtering, evaporation), ALD, Spin coating, Ink-jet printing, and more

Properties

  • Thermal conductivity (k)
  • Specific heat capacity (cp)
  • Seebeck coefficient (S)
  • Electric resistivity (ρ)
  • Electric conductivity (σ)
  • Hall constant (AH)
  • Mobility (μ)
  • Charge carrier concentration (n)

Videos

Contact us

or complete the form below to ask any questions.
we will respond as soon as possible.

ORGANIZATION (UNIVERSITY / COMPANY)
FIRST NAME
LAST NAME
EMAIL
CONTACT NUMBERS
MESSAGE
Thank you for your message. It has been sent!
There was an error trying to send your message. Please try again later.

Start typing and press enter to search

Scroll to Top