Cross-section Polisher
Cross-section Polisher
Cross-section Polisher
Cross-section Polisher
Cross-section Polisher
Cross-section Polisher
IP-10K-img-01
IP-10K-img-02
IP-10K-img-03
IP-10K-img-04
IP-10K-img-05
IP-10K-img-06
previous arrowprevious arrow
next arrownext arrow

Cross-section Polisher (IP-10K)

เครื่องเตรียมหน้าตัดตัวอย่าง โดยวิธีฉายแสงอาร์กอนไอออน Cross-section Polisher (IP-10K) รุ่นอัปเกรด ซึ่งมาพร้อมกับตัวเลือกต่างๆ เช่น การกัดแบบแบน (flat-milling) ขั้นตอนการระบายความร้อน (cooling stage) และโมดูลป้องกันอากาศ ฯ มีประสิทธิภาพและความหลากหลายที่เพิ่มขึ้น รองรับการใช้งานที่หลากหลาย

เครื่องมือนี้สามารถสร้างผิวหน้าตัดตัวอย่างที่เรียบเนียนและปราศจากการทำลาย เหมาะสำหรับการนําไปวิเคราะห์ต่อด้วยเทคนิค Scanning Electron Microscope (SEM) หรือ EDS โดยตัวอย่างประเภทเช่น แร่ธาตุ (minerals), กระดาษ (paper), ไฟเบอร์, เซรามิก หรือฟิล์มโลหะ (metal film) เป็นต้น

Specifications

  • Accelerating voltage: 2to8kV
  • Milling rate: 700μm/h (at 8kV on Si wafer)
  • Maximum sample size:
    – 20(W) × 10(L) × 5.5(T)mm
    – 16(W) × 10(D) × 9.5(H)mm

Applications

ภาพแสดงหน้าตัดของวัสดุตัวอย่าง โดยใช้วิธีการฉายแสงอาร์กอนไอออนของเครื่องเคลือบผิวตัวอย่าง (Ion Sputter Coater) ตัวอย่างวัสดุเช่น แร่ธาตุ (Minerals) กระดาษ (Paper) โลหะผสม (Alloys) แบตเตอรี่ (Battery) เส้นใย (Fiber) ฟิล์ม (Films) หรือเซมิคอนดักเตอร์ (Semi-conductor) เป็นต้น

Videos


Contact Us for Products Information

complete the form below to ask any questions. we will respond as soon as possible.

Scroll to Top