Table-top Scanning Electron Microscope (SEM) กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ

SEM-img-01

SEM-img-02

SEM-img-03

SEM-img-04

SEM-img-05

Table-top Scanning Electron Microscope (SEM)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ Table-top Scanning Electron Microscope (SEM / Tabletop SEM) เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่วิเคราะห์สมบัติเชิงพื้นผิวของวัสดุต่างๆ โดยอาศัยหลักการยิงฉายรังสีอิเล็กตรอนในลักษณะส่องกราดลงบนพื้นผิวของวัสดุ และใช้อิเล็กตรอนที่สะท้อนมาจากบริเวณพื้นผิวของตัวอย่างในการสร้างภาพ สามารถใช้ในงานวิจัยวัสดุได้หลากหลายประเภท

นอกจากนี้ยังสามารถรองรับการติดตั้ง detectors ได้อย่างหลากหลายชนิด เช่น SE, BSE, STEM รวมถึง EDS ที่สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมี หรือการวิเคราะห์หาธาตุต่างๆ ได้อีกด้วย

Specifications

Wide magnification range:
20x up to maximum 150,000x
Highly adjustable system:
– Accelerating voltage 1 kV up to 30 kV (adjustable in step of 1 kV)
– Beam spot size 30 / 50 / 100 / 200 μm (adjustable in 4 steps)
High / Low vacuum mode
Multiple detectors:
– SE (Secondary Electron) detector
– BSE (Back-Scattered Electron) detector
– EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) detector
– STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) detector

Applications

To understand cells, proteins, and DNA, scientists are now actively using scanning electron microscopy to directly visualize surface structures of cells and macromolecules at nanometer resolution.

COXEM provides multiple useful techniques with its leading scanning electron microscope, such as SE, BSE, and cool stage, to investigate morphological structures of these biological specimens.

The data acquired can provide valuable insights into scientists in leading research labs and hospitals, as well as professors and students in universities.