Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)
Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)
Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)
Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)
Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)
SEM-EM-30N-img-01
SEM-EM-30N-img-02
SEM-EM-30N-img-03
SEM-EM-30N-img-04
SEM-EM-30N-img-05
previous arrowprevious arrow
next arrownext arrow

Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ รุ่น EM-30N หรือ Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N) เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่วิเคราะห์สมบัติเชิงพื้นผิวของวัสดุต่างๆ ซึ่งรุ่น EM-30N มาพร้อมกับเทคโนโลยีที่มีประสิทธิภาพและราคาที่เหมาะสม สามารถให้ภาพที่ชัดเจน โดยไม่มีสัญญาณรบกวนแม้จะขยายภาพสูง และสแกนพื้นที่ที่กว้างขึ้นด้วยคุณสมบัติพาโนรามา

นอกจากนี้ยังสามารถรองรับ Detectors ได้หลากหลายชนิด ได้แก่ SE, BSE, STEM, EDS และ EBSD และสามารถใช้ในงานวิจัยหลากหลายสาขา เช่น โลหะวิทยา วิศวกรรมวัสดุ หรือ ธรณีวิทยา เป็นต้น

Specifications

  • Wide magnification range:
    20x up to maximum 150,000x
  • Highly adjustable system:
    Accelerating voltage 1 kV up to 30 kV (adjustable in step of 1 kV)
    Beam spot size 30 / 50 / 100 / 200 μm (adjustable in 4 steps)
  • High / Low vacuum mode
  • Multiple detectors:
    SE (Secondary Electron) detector
    BSE (Back-Scattered Electron) detector
    EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) detector
    STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) detector

Applications

กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราด (Scanning Electron Microscope/SEM) เพื่อแสดงโครงสร้างพื้นผิวของเซลล์และโมเลกุลขนาดใหญ่โดยตรง ด้วยความละเอียดระดับนาโนเมตร เช่น จุลชีววิทยา วิทยาศาสตร์ด้านอาหารหรือสิ่งแวดล้อม กระดาษ เส้นใยผม รากฟันเทียม แผ่นแปะเพื่อความงาม ผงเงิน เป็นต้น

Videos


Contact Us for Products Information

complete the form below to ask any questions. we will respond as soon as possible.

Scroll to Top