Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N)
กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ รุ่น EM-30N หรือ Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-30N) เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่วิเคราะห์สมบัติเชิงพื้นผิวของวัสดุต่างๆ ซึ่งรุ่น EM-30N มาพร้อมกับเทคโนโลยีที่มีประสิทธิภาพและราคาที่เหมาะสม สามารถให้ภาพที่ชัดเจน โดยไม่มีสัญญาณรบกวนแม้จะขยายภาพสูง และสแกนพื้นที่ที่กว้างขึ้นด้วยคุณสมบัติพาโนรามา
นอกจากนี้ยังสามารถรองรับ Detectors ได้หลากหลายชนิด ได้แก่ SE, BSE, STEM, EDS และ EBSD และสามารถใช้ในงานวิจัยหลากหลายสาขา เช่น โลหะวิทยา วิศวกรรมวัสดุ หรือ ธรณีวิทยา เป็นต้น
Specifications
Applications
กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราด (Scanning Electron Microscope/SEM) เพื่อแสดงโครงสร้างพื้นผิวของเซลล์และโมเลกุลขนาดใหญ่โดยตรง ด้วยความละเอียดระดับนาโนเมตร เช่น จุลชีววิทยา วิทยาศาสตร์ด้านอาหารหรือสิ่งแวดล้อม กระดาษ เส้นใยผม รากฟันเทียม แผ่นแปะเพื่อความงาม ผงเงิน เป็นต้น
Videos
Contact Us for Products Information
complete the form below to ask any questions. we will respond as soon as possible.