กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์อิเล็กตรอนส่องกราดแบบตั้งโต๊ะ รุ่น EM-40 หรือ Table-top Scanning Electron Microscope (SEM EM-40) เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่วิเคราะห์สมบัติเชิงพื้นผิวของวัสดุต่างๆ ซึ่งรุ่น EM-40 มาพร้อมเทคโนโลยีการประมวลผลสัญญาณรุ่นที่ 5 ที่รวดเร็วเป็นพิเศษ สามารถใช้งานง่ายด้วยระบบโฟกัสอัตโนมัติ และยังสามารถรองรับ detectors ได้หลากหลายชนิด ได้แก่ SE, BSE, STEM รวมถึง EDS และ EBSD ภายใต้แบรนด์ “Bruker” อีกด้วย สามารถใช้ในงานวิจัยหลากหลายสาขา เช่น โลหะวิทยา วิศวกรรมวัสดุ หรือ ธรณีวิทยา เป็นต้น